Cassification
產(chǎn)品展示/ Product display
冷熱沖擊測試箱,支持遠(yuǎn)程監(jiān)控與數(shù)據(jù)導(dǎo)出是一款三箱式(預(yù)冷區(qū)、預(yù)熱區(qū)、測試區(qū))冷熱沖擊測試箱,專為測試材料、電子元器件、汽車零部件、航空航天設(shè)備等在高低溫瞬間變化條件下的耐受性與可靠性而設(shè)計。設(shè)備核心亮點在于集成了物聯(lián)網(wǎng)(IoT)技術(shù),支持遠(yuǎn)程監(jiān)控與數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能,極大提升了測試流程的智能化水平和用戶體驗,滿足現(xiàn)代實驗室對數(shù)據(jù)化、可追溯性的高標(biāo)準(zhǔn)要求。
2025-08-29
TSD-100F-2P
609
PCB電路板可靠性測試?yán)錈釠_擊試驗箱是專為評估PCB電路板、電子元器件及焊接點在高低溫環(huán)境快速變化下的耐久性、抗疲勞性及可靠性而設(shè)計的精密測試儀器。它通過模擬嚴(yán)苛的溫度驟變條件,精準(zhǔn)暴露產(chǎn)品潛在的材料缺陷、熱膨脹系數(shù)不匹配導(dǎo)致的斷裂、焊點開裂等工藝缺陷,是提升電子產(chǎn)品品質(zhì)與壽命的關(guān)鍵檢測設(shè)備。
2025-08-29
TSD-100F-2P
610
高效風(fēng)冷式冷熱沖擊試驗箱是一款采用風(fēng)冷散熱技術(shù)的三箱式(預(yù)熱區(qū)、測試區(qū)、預(yù)冷區(qū))冷熱沖擊試驗箱。它專為測試材料、電子元器件、汽車零部件、航空航天產(chǎn)品等在瞬間經(jīng)受高溫和極低溫的連續(xù)環(huán)境下的耐受性能而設(shè)計,能夠快速在高低溫之間進行轉(zhuǎn)換,提供嚴(yán)苛的溫度沖擊測試環(huán)境。
2025-08-29
TSD-252F-2P
601
不銹鋼內(nèi)膽冷熱沖擊試驗箱是一款采用高品質(zhì)全不銹鋼內(nèi)膽制造的高效能冷熱沖擊試驗箱,專為測試材料、元器件、組件等在高低溫瞬間變化條件下的耐受性和可靠性而設(shè)計。它通過模擬嚴(yán)苛的溫度沖擊環(huán)境,快速暴露產(chǎn)品的潛在缺陷,如材料裂化、性能失效等,是提升產(chǎn)品質(zhì)量、進行可靠性驗證及失效分析的關(guān)鍵設(shè)備。廣泛應(yīng)用于航空航天、汽車電子、半導(dǎo)體、新能源及科研院所等領(lǐng)域。
2025-08-29
TSD-252F-2P
629
冷熱沖擊試驗箱 溫度快速轉(zhuǎn)換測試設(shè)備是一種用于模擬溫度快速變化的可靠性測試設(shè)備,廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天等領(lǐng)域。該設(shè)備通過快速切換高溫和低溫環(huán)境,檢測產(chǎn)品在溫度驟變條件下的性能穩(wěn)定性、材料耐候性及可靠性。
2025-08-29
TSD-150F-2P
595
半導(dǎo)體專用冷熱沖擊箱 芯片級溫度循環(huán)試驗是一種高精度環(huán)境測試設(shè)備,專為芯片、半導(dǎo)體元件、集成電路(IC)等電子產(chǎn)品的可靠性測試而設(shè)計。該設(shè)備通過快速溫度變化(通常-65℃至+150℃或更高范圍),模擬溫度環(huán)境,檢測半導(dǎo)體材料在熱應(yīng)力下的性能變化,確保產(chǎn)品在嚴(yán)苛條件下的穩(wěn)定性和耐久性。
2025-08-18
TSD-150F-2P
662
超低溫冷熱沖擊試驗箱 -40℃環(huán)境測試儀是一種用于模擬溫度變化環(huán)境的可靠性測試設(shè)備,能夠在高溫和超低溫之間快速切換,檢測產(chǎn)品在溫度驟變條件下的性能穩(wěn)定性。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電子、汽車、航空航天、新能源等領(lǐng)域,確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的可靠性。
2025-08-18
TSD-150F-2P
618
超快速冷熱沖擊試驗箱 10秒內(nèi)完成溫度轉(zhuǎn)換是一種高精度環(huán)境測試設(shè)備,能夠在10秒內(nèi)完成高低溫的快速轉(zhuǎn)換,模擬產(chǎn)品在瞬間溫度變化環(huán)境下的耐受能力。該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電子元器件、汽車電子、航空航天、新能源電池等領(lǐng)域,用于測試材料在劇烈溫度變化下的可靠性、穩(wěn)定性和耐久性。
2025-08-18
TSD-100F-2P
573
C
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