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Cassification
在測試過程中,首先將電子芯片按標準安裝于試驗箱內,連接測試電路與數據采集設備。隨后,根據芯片應用場景與標準規范,設定 -55℃至 125℃的溫度變化范圍,溫變速率達 15℃/min,循環次數設為 50 次。在每次溫度驟變過程中,實時監測芯片的電氣參數,如工作電壓、電流、信號傳輸延遲等,同時借助紅外熱成像儀觀察芯片表面溫度分布與熱點變化。
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